Sinopsis
Spektroskopi fotoelektron sinar-X (XPS) adalah instrumen untuk mengetahui komposisi, karakteristik dan perilaku permukaan hingga kedalaman tertentu dari nano material padat, interaksi yang terjadi dengan material lain, dan fenomena interaksi yang terjadi proses doping, dan adsorpsi, komponen pada permukaan, ketebalan lapisan, adanya komponen pada suatu lapisan, bilangan oksidasi konstituen material, reaksi yang terjadi dan lainnya. Saat ini, pendekatan yang dapat dilakukan untuk memahami fenomena tersebut dengan dua cara, ex-situ dan in-situ. Kenyataannya, tidak ada hasil analisis yang mampu memberikan semua informasi terkait kajian.
Hasil analisis XPS setidaknya memberikan informasi yang sangat membantu terkait fenomena yang terjadi pada material nano yang berasal dari material anorganik, organik, dan biomaterial (protein dan molekul lainnya). Instrumen lain yang dapat memberikan penguatan kajian suatu material dengan hasil analisis XPS cukup banyak. Pada analisis kuantitatif protein, spektra XPS dikuatkan dengan salah satu hasil dari analisis QCM (Quartz Crystal Microbalance), spektroskopi elipsometri, AFM-TM (Atomic Force Microscopy in Tapping Mode), spektroskopi tampak – ultraviolet (UV), differential centrifugal sedimentation (DCS), dan dynamic light scattering (DLS).
